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SEM原位冷熱臺(tái)是一款在掃描電子顯微鏡內(nèi)，提供樣品原位變溫測試的產(chǎn)品（無需改造電鏡內(nèi)部結(jié)構(gòu)）。通過定制外接法蘭裝置，操作溫控軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)冷熱臺(tái)上樣品的溫控，適用于各種樣品的變溫微觀結(jié)構(gòu)研究，支持與現(xiàn)有各種掃描電子顯微鏡（蔡司、國儀量子、惠然等）適配。
聯(lián)系人：趙先生
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